星拓環(huán)境是知名的可靠性測試設備制造商，在可靠性領(lǐng)域有非常成熟的生產(chǎn)經(jīng)驗，針對各行各業(yè)不同的檢測需求，星拓環(huán)境也有著(zhù)非常專(zhuān)業(yè)的解決方案，在前幾期的介紹中我們講述了高低溫試驗箱在新能源等領(lǐng)域中的應用，今天來(lái)講講高低溫試驗箱在元器件行業(yè)的解決方案，我們有很多來(lái)自元器件行業(yè)用戶(hù)，其中不乏頭部企業(yè)。今天跟著(zhù)我們一起來(lái)了解一下高低溫試驗箱在電子元器件領(lǐng)域的應用。

高低溫試驗箱用于電子電器元件、自動(dòng)化零部件、通訊元件、汽車(chē)零部件、金屬、化工材料、塑料等行業(yè)、國防工業(yè)、航空航天、軍工、BGA、PCB基板扳手、電子芯片IC、半導體陶瓷磁性和高分子材料的物理變化，測試其材料承受高低溫的性能以及產(chǎn)品在熱脹冷縮中的化學(xué)變化或物理?yè)p傷，可以確認產(chǎn)品的質(zhì)量，從精密IC到重型機械元件，將是各領(lǐng)域產(chǎn)品測試必不可少的試驗箱。

高低溫試驗箱可以給電子元器件做哪些檢測？電子元件是整機的基礎，在使用過(guò)程中可能由于其固有缺陷或制造過(guò)程控制不當而形成與時(shí)間或應力有關(guān)的故障。為保證整批元器件的可靠性，滿(mǎn)足整機的要求，需要排除在使用條件下可能出現初始故障的元器件。元件故障率隨時(shí)間變化的過(guò)程可以用浴缸曲線(xiàn)故障率曲線(xiàn)來(lái)描述。早期故障率隨著(zhù)時(shí)間的增加而迅速下降，在使用壽命期間（或意外故障期間）的損失效率基本不變。

1.高溫儲存

電子元器件的失效大多是由于機體和表面的各種物理化學(xué)變化引起的，這些變化與溫度密切相關(guān)。溫度升高后，化學(xué)反應速度大大加快，加速失效過(guò)程。使有缺陷的元件能及時(shí)暴露出來(lái)，加以淘汰。

高溫篩分廣泛應用于半導體器件中，可有效消除表面污染、鍵合不良和氧化層缺陷等失效機理。一般在最高結溫下儲存 24~168 小時(shí)。高溫篩分簡(jiǎn)單易行，價(jià)格不貴，可以對很多部件進(jìn)行。高溫儲存后，可以穩定元器件的參數性能，減少使用中的參數漂移。

2.電力電力

在篩選中，在熱電應力的綜合作用下，可以很好地暴露出元器件本體和表面的許多潛在缺陷，這是可靠性篩選的重要項目。各種電子元器件通常在額定功率條件下精煉幾小時(shí)到168小時(shí)。有些產(chǎn)品，如集成電路，不能隨便改變條件，而是可以采用高溫工作方式來(lái)提高工作結溫，達到高應力狀態(tài)。電力精煉需要專(zhuān)門(mén)的測試設備高低溫試驗箱，成本高，篩選時(shí)間不宜過(guò)長(cháng)。民用產(chǎn)品通常是幾個(gè)小時(shí)，軍用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時(shí)，航空級部件可以選擇240小時(shí)或更長(cháng)的周期。

3.溫度循環(huán)

電子產(chǎn)品在使用過(guò)程中會(huì )遇到不同的環(huán)境溫度條件。在熱脹冷縮的應力作用下，熱匹配性能差的元件很容易失效。溫度循環(huán)篩選利用極端高溫和極端低溫之間的熱脹冷縮應力，可有效剔除具有熱性能缺陷的產(chǎn)品。常用的元器件篩選條件為-55~125℃，5~10個(gè)循環(huán)。

電力精煉需要專(zhuān)門(mén)的測試設備，成本高，篩選時(shí)間不宜過(guò)長(cháng)。民用產(chǎn)品通常是幾個(gè)小時(shí)，軍用高可靠性產(chǎn)品可以選擇100168小時(shí)，航空級部件可以選擇240小時(shí)或更長(cháng)的周期。

4.篩選元件的必要性

電子元器件的固有可靠性取決于產(chǎn)品的可靠性設計。在產(chǎn)品的制造過(guò)程中，由于人為因素或原材料、工藝條件、設備條件的波動(dòng)，最終的成品并不能全部達到預期的固有可靠性。在每批成品中，總有一些產(chǎn)品存在一些潛在的缺陷和弱點(diǎn)，其特點(diǎn)是在一定的應力條件下早期失效。早期失效部件的平均壽命比正常產(chǎn)品短得多。

電子設備能否可靠工作的依據是電子元器件能否可靠工作。如果早期故障部件與整機設備一起安裝，將大大增加整機設備早期故障的故障率，其可靠性達不到要求，也將付出巨大的代價(jià)修理。

因此星拓環(huán)境建議您：在電子元件與整機設備安裝前，應盡量排除早期失效的元件，對元件進(jìn)行篩選。根據國內外篩分經(jīng)驗，通過(guò)有效篩分，可使元器件總故障率降低1-2個(gè)數量級。

因此，無(wú)論是軍用產(chǎn)品還是民用產(chǎn)品，篩選都是保證可靠性的重要手段。高低溫試驗箱都是電子元器件環(huán)境可靠性試驗的最佳選擇。